半导体芯片开短路可能原因失效
开短路的可能原因失效分析赵工半导体工程师2023-04-1107:23发表于北京封装工艺方面表现为断丝，塌丝，碰丝，内引脚相碰，点脱，球脱，球飘等。占封装造成开短路的90%以上，...
半导体芯片电子件失效与分析一文看懂
你好。你到现在还没有正确理解，题目半导体芯片电子元件失效与分析，我指cMS管，与门，非门，与非门，或门，非门，或非门。是采用四至五个Pmos或NmS所组成门逻辑电路，如果...
关于锂离子电池剩余使用寿命预测
关于锂电池剩余使用寿命预测。由于电池阳极和阴极电解液中的电化学副反应，以及受机械应力、制造工艺缺陷、环境温度等外界因素的影响，电池的退化成为一个复杂的问题，锂离...